美國普林斯頓大學(xué)大學(xué)的研究人員表示，他們已經(jīng)找到了一種消除計(jì)算機(jī)芯片中微小缺陷的方法，這將有助于芯片廠商開發(fā)處理能力更強(qiáng)大的處理器。

    由于芯片尺寸越來越小，很小的缺陷就可能影響其性能。例如，如果芯片中的納米結(jié)構(gòu)不夠直、不夠薄或不夠高，就會(huì)造成電流泄露和電壓波動(dòng)的故障。

    普林斯頓大學(xué)教授約瑟夫在一份聲明中說，這些芯片缺陷會(huì)嚴(yán)重影響到許多產(chǎn)業(yè)未來的發(fā)展。通過消除這些缺陷，芯片廠商能夠制造出尺寸更小和處理功能更強(qiáng)大的處理器，從而催生尺寸更小、功能更強(qiáng)大的設(shè)備。

    約瑟夫方法的重點(diǎn)不是制造沒有缺陷的芯片，而是自動(dòng)地消除芯片中的缺陷。他提出的方法能夠在百萬分之一秒的時(shí)間內(nèi)修正有缺陷的部分。